1. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: application to rough and natural surfaces
المؤلف: / G. Kaupp.,کاوپ,Kaupp
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: میکروسکوپی نیروی اتمی,میکروسکوپی میدان نزدیک
رده :
QH
۲۱۲
/
م
۹
ک
۲ ۱۳۸۵

